- 日程
- 2014年12月20日(土) 13時30分~15時30分
- 会場
- 早稲田大学早稲田キャンパス 3号館401教室
- 主催
- 東京医科歯科大学
- 早稲田大学 知的財産法制研究所(RCLIP)
- 参加費
- 無料
講演の概要
竹中俊子 ワシントン大学ロースクール教授
パテントトロールの横行による影響でアメリカおよびEPC加盟国においても記述要件が強化され、明細書に開示された範囲をこえたクレーム範囲での特許取得が困難になってきている。また、均等論を柔軟に適用してきたドイツにおいても、英国との特許調和の影響で均等侵害が認められなくなっている。そのため、開示の範囲を超える侵害態様に対しては均等を参酌した拡張的クレーム解釈により文言侵害を認める傾向が強くなっている。本講演では発表者のデュッセルドルフ高等裁判所での実務研修の成果をもとに、クレーム解釈における明細書に開示した実施例とその均等の機能について比較法的見地から検討する。
設樂隆一 知的財産高等裁判所長
最近の知財高裁のクレーム解釈と均等論の裁判例の紹介
西井志織 名古屋大学法学部准教授
クレーム解釈の資料及び当業者基準の観点を中心として